X射線熒光光譜儀的技術(shù)指標(biāo)

時間：2018-11-03作者：蘇州百測檢測科技有限公司瀏覽：360

蘇州百測檢測科技有限公司專注于x射線熒光光譜儀,手持式光譜儀,ROHS檢測儀器,x射線鍍層測厚儀,直讀光譜儀,XRF檢測儀器,手持式合金分析儀,等離子體**光譜儀,RHS2.0測試儀,手持式X熒光光譜儀等

• 詞條

  詞條說明

• 便攜式光譜儀性能

  便攜式光譜分析儀采用小功率端窗一體化微型光管、大面積鈹窗SDD硅漂移探測器（世界上較好的探測器）及微型數(shù)字信號多道處理器三大**技術(shù)的引入，大幅降低測試時間、提高檢測精度、減少測試誤差，使手持式儀器具有與臺式相近的測試性能。體積很小，便攜、方便野外工作。隨時隨地，隨心所欲的現(xiàn)場分析和原位分析。 無損檢測 整個檢測過程被測樣品無任何損壞 快速檢測 儀器既可手持1-2秒對樣品進(jìn)行快速測試，也能使用座

• X射線熒光光譜儀的技術(shù)指標(biāo)

  X射線熒光光譜儀的技術(shù)指標(biāo)如下： 元素分析范圍從硫（S）到鈾（U） 分析檢出限可達(dá)1ppm 分析含量一般為1ppm到99.99％ 任意多個可選擇的分析和識別模型 相互獨立的基體效應(yīng)校正模型 多變量非線性回歸程序 溫度適應(yīng)范圍為15℃至30℃ 電源：交流220V±5V,建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源 能量分辨率：160±5eV 外觀尺寸： 550×416×333mm 樣品腔尺寸：460×298×98mm

• 鍍層測厚儀工作原理

  利用X射線穿透被測材料時,X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性,從而測定材料的厚度,是一種非接觸式的動態(tài)計量儀器。針對檢測樣本的不同種類，可在下列3種型號中進(jìn)行選擇。測量引線架、連接器等各類電子元器件的微型部件、**薄薄膜的型號，能夠處理尺寸為600 mm×600 mm的大型印刷電路板的大型印刷電路板用型號，適合對陶瓷芯片電極部分中，過去難以同時測量的Sn/Ni兩層進(jìn)行高能測量的型號。 兼顧易

• ROHS檢測儀產(chǎn)品說明

  ROHS檢測儀產(chǎn)品說明，江蘇儀器股份有限公司專業(yè)提供檢測ROHS測試儀EDX1800B的技術(shù)參數(shù):測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）,元素含量分析范圍： ppm—**（不同元素，分析范圍不同）,同時分析元素：一次性可測幾十種元素。 測量時間：30秒-200秒；探測器能量分辨率為：145±5eV。管壓：5KV-50KV；管流：50μA-1000μA 測量對象狀態(tài)：粉末、固體、液體。輸