鍍層測(cè)厚儀工作原理

時(shí)間：2020-01-05作者：蘇州百測(cè)檢測(cè)科技有限公司瀏覽：330

蘇州百測(cè)檢測(cè)科技有限公司專注于x射線熒光光譜儀,手持式光譜儀,ROHS檢測(cè)儀器,x射線鍍層測(cè)厚儀,直讀光譜儀,XRF檢測(cè)儀器,手持式合金分析儀,等離子體**光譜儀,RHS2.0測(cè)試儀,手持式X熒光光譜儀等

• 詞條

  詞條說明

• X射線測(cè)厚儀校正方法

  X射線測(cè)厚儀是檢測(cè)電鍍層厚度的儀器，通常x射線測(cè)厚儀被廣泛應(yīng)用于電鍍廠，五金廠，汽車零部件，PCB加工，電子連接件等行業(yè)。X射線測(cè)厚儀又叫膜厚儀，測(cè)膜儀，鍍層測(cè)試儀，x射線鍍層測(cè)厚儀，金屬測(cè)厚儀，xrf測(cè)厚儀，x-ray測(cè)厚儀，x熒光光譜鍍層測(cè)厚儀等。那么如何校正？ 使用標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行校正是x射線測(cè)厚儀的正確方法，標(biāo)準(zhǔn)片又名膜厚儀校準(zhǔn)片，專業(yè)用于X射線測(cè)厚儀（膜厚儀）在測(cè)金屬鍍層厚度時(shí)進(jìn)行的標(biāo)準(zhǔn)化校

• 手持式光譜儀校正

  手持式光譜儀是一種便攜式能夠現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行分析的儀器，按照不同的原理可以分為手持式x射線熒光光譜儀，手持式紅外光譜儀，手持式拉曼光譜儀，手持式XRF光譜儀，手持式激光誘導(dǎo)擊穿光譜儀等。這里重點(diǎn)介紹手持式x射線熒光光譜儀的校正。 我們都知道光譜儀在長期的使用過程中，由于使用環(huán)境的不斷變化，會(huì)發(fā)生譜線的漂移，所以需要校正。對(duì)于剛生產(chǎn)的設(shè)備，出廠前都會(huì)將標(biāo)準(zhǔn)樣品的譜圖和含量輸入到應(yīng)用軟件當(dāng)中，所以通常我們也

• 手持式光譜分析儀

  手持式光譜合金分析儀explorer系列產(chǎn)品的性能良好，精度高，接近實(shí)驗(yàn)室級(jí)的分析水平，可直觀顯示合良好號(hào)和元素百分比含量（某些元素可顯示到小數(shù)點(diǎn)后三位）及ppm含量。開機(jī)啟動(dòng)—瞄準(zhǔn)測(cè)試—察看結(jié)果”，整個(gè)分析過程僅需數(shù)秒便可完成，合良好號(hào)鑒別只需1~2秒鐘，操作簡單，即使非技術(shù)人員也可輕松掌握。采用堅(jiān)韌的LEXAN.塑料密封外殼，重量輕，堅(jiān)固耐用；密封式一體化設(shè)計(jì)，防塵、防水、防腐蝕，可在多種條

• 便攜式光譜儀性能

  便攜式光譜分析儀采用小功率端窗一體化微型光管、大面積鈹窗SDD硅漂移探測(cè)器（世界上較好的探測(cè)器）及微型數(shù)字信號(hào)多道處理器三大**技術(shù)的引入，大幅降低測(cè)試時(shí)間、提高檢測(cè)精度、減少測(cè)試誤差，使手持式儀器具有與臺(tái)式相近的測(cè)試性能。體積很小，便攜、方便野外工作。隨時(shí)隨地，隨心所欲的現(xiàn)場(chǎng)分析和原位分析。 無損檢測(cè) 整個(gè)檢測(cè)過程被測(cè)樣品無任何損壞 快速檢測(cè) 儀器既可手持1-2秒對(duì)樣品進(jìn)行快速測(cè)試，也能使用座