X射線熒光光譜儀原理

時(shí)間：2018-07-24作者：蘇州百測(cè)檢測(cè)科技有限公司瀏覽：466

蘇州百測(cè)檢測(cè)科技有限公司專注于x射線熒光光譜儀,手持式光譜儀,ROHS檢測(cè)儀器,x射線鍍層測(cè)厚儀,直讀光譜儀,XRF檢測(cè)儀器,手持式合金分析儀,等離子體**光譜儀,RHS2.0測(cè)試儀,手持式X熒光光譜儀等

• 詞條

  詞條說明

• EDX1800B原理

  EDX1800B元素測(cè)試儀的原理和功能較加強(qiáng)大，以*特的產(chǎn)品配置、功能齊全的測(cè)試軟件、友好的操作界面來滿足RoHS及鹵素檢測(cè)的需要。提供EDX1800B元素測(cè)試儀產(chǎn)品資料、性能、技術(shù)參數(shù)和操作說明。? 人性化的設(shè)計(jì)，使測(cè)試工作較加輕松完成。?儀器技術(shù)指標(biāo) 。元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)。元素含量分析范圍為2 PPm到** 。測(cè)量時(shí)間：60-200秒。RoHS指令規(guī)

• X射線測(cè)厚儀校正方法

  X射線測(cè)厚儀是檢測(cè)電鍍層厚度的儀器，通常x射線測(cè)厚儀被廣泛應(yīng)用于電鍍廠，五金廠，汽車零部件，PCB加工，電子連接件等行業(yè)。X射線測(cè)厚儀又叫膜厚儀，測(cè)膜儀，鍍層測(cè)試儀，x射線鍍層測(cè)厚儀，金屬測(cè)厚儀，xrf測(cè)厚儀，x-ray測(cè)厚儀，x熒光光譜鍍層測(cè)厚儀等。那么如何校正？ 使用標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行校正是x射線測(cè)厚儀的正確方法，標(biāo)準(zhǔn)片又名膜厚儀校準(zhǔn)片，專業(yè)用于X射線測(cè)厚儀（膜厚儀）在測(cè)金屬鍍層厚度時(shí)進(jìn)行的標(biāo)準(zhǔn)化校

• 手持式光譜儀校正

  手持式光譜儀是一種便攜式能夠現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行分析的儀器，按照不同的原理可以分為手持式x射線熒光光譜儀，手持式紅外光譜儀，手持式拉曼光譜儀，手持式XRF光譜儀，手持式激光誘導(dǎo)擊穿光譜儀等。這里重點(diǎn)介紹手持式x射線熒光光譜儀的校正。 我們都知道光譜儀在長(zhǎng)期的使用過程中，由于使用環(huán)境的不斷變化，會(huì)發(fā)生譜線的漂移，所以需要校正。對(duì)于剛生產(chǎn)的設(shè)備，出廠前都會(huì)將標(biāo)準(zhǔn)樣品的譜圖和含量輸入到應(yīng)用軟件當(dāng)中，所以通常我們也

• Rohs檢測(cè)儀詳情

  作為國內(nèi)*的Rohs檢測(cè)儀制造廠商，儀器秉承精益求精的研發(fā)理念，利用現(xiàn)代半導(dǎo)體技術(shù)和計(jì)算機(jī)技術(shù)發(fā)展起來的新一代XRF測(cè)試儀EDX1800B，能夠**的解決ROHS環(huán)保指令涉及的有害物質(zhì)的快速測(cè)定。 Rohs檢測(cè)儀技術(shù)參數(shù) 分析檢出限可達(dá)1ppm；分析含量一般為1ppm到99.99％；任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型；相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型；多變量非線性回歸程序；溫度適應(yīng)范圍為15℃至30℃