白片晶圓chipwafer大批量求購(gòu)

時(shí)間：2023-05-12作者：龐博電子有限公司（中國(guó)香港）瀏覽：29

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  白片晶圓矽晶圓轉(zhuǎn)讓矽晶圓 矽晶圓 矽晶圓 交流電的過零點(diǎn)檢測(cè)方案較多，目前較常見的也是我之前所使用的方案如所示：交流電光耦過零檢測(cè)電路的電路可以檢測(cè)到交流電經(jīng)過零點(diǎn)的時(shí)間，但是它存在諸多的弊端，現(xiàn)列舉如下：電阻消耗功率太大，發(fā)熱較多。220V交流電，按照有效值進(jìn)行計(jì)算三個(gè)47K的電阻平均每個(gè)電阻的功率為220^2/(3*47k)/3=114.42mw。對(duì)于0805的貼片電阻按照1/8w的功率計(jì)算，

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