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詞條說明
金屬的光譜分析法是指通過分析樣品的光譜特性來定量其中不同元素的含量。以較為**的直讀光譜儀為例,具體分析過程包括:1.通過電容火花放電的方式使被測金屬表面蒸發(fā)形成原子蒸汽,由于受到高能激發(fā),這些原子的核外電子會(huì)從基態(tài)躍遷到激發(fā)態(tài),由于激發(fā)態(tài)的電子處于不穩(wěn)態(tài),會(huì)躍遷回基態(tài),并放出光子,形成光源。2.不同的元素其發(fā)出的光子特征波長不一樣。將光源的光通過分光系統(tǒng)分光后,由光電檢測器檢測各個(gè)元素特征波長上
手持式光譜儀在使用的時(shí)候,對于環(huán)境是有一定的要求,不要在潮濕的環(huán)境下工作的,環(huán)境濕度0-95%之間為較好,不能在太高溫下操作工作,這樣的理由是避免各類磁場的干擾,如此儀器分析的時(shí)候才能檢測出較精確的精度。所以,大家在工作的時(shí)候要注意環(huán)境的適合度,很多時(shí)候儀器檢測不標(biāo)準(zhǔn)跟環(huán)境還是有很大程度上的關(guān)系。一、手持式光譜儀對于操作人員也是要一定要求的,測試樣品**定要請儀器廠商的技術(shù)人員現(xiàn)場演示,并且對技術(shù)
● 1.熒光X射線微小面積鍍層厚度測量儀的特征*可測量電鍍、蒸鍍、離子鍍等各種金屬鍍層的厚度。*可通過CCD攝像機(jī)來觀察及選擇任意的微小面積以進(jìn)行微小面積鍍層厚度的測量,避免直接接觸或破壞被測物。*薄膜FP法軟件是標(biāo)準(zhǔn)配置,可同時(shí)對多層鍍層及全金鍍層厚度和成分進(jìn)行測量。此外,適用于無鉛焊錫的應(yīng)用。*備有250種以上的鍍層厚度測量和成分分析時(shí)所需的標(biāo)準(zhǔn)樣品。(SII**)● 2.測量原理如圖1所示,
手持重金屬光譜儀技術(shù)參數(shù):1、分析方法:能量色散X熒光分析方法2、測量元素范圍:原子序數(shù)為12~92【鎂(Mg)到鈾(U)】之間70種元素均可測量3、檢測元素:主要測試項(xiàng)目是GB 15618-1995土壤環(huán)境質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的鉛、砷、鉻、銅、鎳、鋅、釩、錳、鈷等元素,其準(zhǔn)確度合格率需符合(按《全國土壤污染狀況調(diào)查質(zhì)量保證技術(shù)規(guī)定》判定),可根據(jù)用戶需求定制增加檢測元素4、微電腦系統(tǒng):工業(yè)定制級(jí)Win
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