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市面上常見的材料成分厚度測試的方法有:金相顯微鏡法、庫倫法、磁性法、電渦流法、X光射線法等。這些方法都有自己的特點(diǎn)和優(yōu)勢。金相顯微鏡法耗費(fèi)時(shí)間長和庫倫法一樣都屬于破壞性測試,磁性法和電渦流法的應(yīng)用范圍窄,那X光射線法有什么特點(diǎn)呢?今天就跟著X射線熒光光譜測厚儀生產(chǎn)廠家一六儀器的小編來說一說吧。X光射線法的測試原理:X射線射到電鍍層表面,產(chǎn)生X射線熒光,根據(jù)熒光譜線元素能量位置及其強(qiáng)度確定鍍層組成及
鍍層測試儀是由于部件表面的探頭產(chǎn)生一個(gè)閉合的磁回路,隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變,該磁回路將不同程度的改變,引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以精確地測量探頭與鐵磁性材料間的距離。接下來和一六一起了解鍍層測試儀使用方法及使用注意事項(xiàng)。鍍層測試儀的正確使用方法:一,打開電源觀察菜單。當(dāng)你打開電源之后,你會(huì)觀察到顯示屏上面的菜單。這個(gè)時(shí)候,我們需要對(duì)它選擇一定的模式,測量模式主要分為F
在當(dāng)今科技飛速發(fā)展的時(shí)代,分析材料組成和結(jié)構(gòu)的需求越來越迫切。能量色散X熒光光譜儀(EDXRF)作為一項(xiàng)關(guān)鍵的分析技術(shù),為我們深入了解材料內(nèi)部的元素組成提供了有力工具。本文將探討EDXRF技術(shù)的原理、應(yīng)用領(lǐng)域以及其在科研和工業(yè)生產(chǎn)中的重要作用。?EDXRF技術(shù)原理?能量色散X熒光光譜儀利用X射線與物質(zhì)相互作用產(chǎn)生的熒光現(xiàn)象來分析材料中的元素。其原理基于X射線的特性,當(dāng)X射線入射
我們在選擇光譜測厚儀的時(shí)候不要只看廠家的宣傳廣告?,F(xiàn)在的時(shí)代跟以前不同了,商家們利用各種渠道進(jìn)行網(wǎng)絡(luò)營銷,宣傳自己家的產(chǎn)品,讓顧客看到自己家產(chǎn)品的優(yōu)勢。但是這其中也不乏一些商家利用廣告去過分夸大自己家的設(shè)備,花大價(jià)錢打響品牌**度后,之后提高價(jià)格,很多商家在購買商品的時(shí)候只看品牌廣告,忽視了自身的需求,買了一些價(jià)格虛高的設(shè)備。我們在購買光譜測厚儀的時(shí)候首先需要了解自身的需求,保證購買的光譜測厚儀是
公司名: 江蘇一六儀器有限公司
聯(lián)系人: 董思琪
電 話:
手 機(jī): 18915487005
微 信: 18915487005
地 址: 江蘇蘇州昆山市成功路168號(hào)
郵 編:
網(wǎng) 址: elite1617.b2b168.com
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