天瑞儀器優(yōu)勢

時間：2021-01-27作者：江蘇天瑞儀器股份有限公司瀏覽：341

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  詞條說明

• 手持式光譜儀原理

  手持式光譜儀是一種基于XRF光譜分析技術(shù)的光譜分析儀器，當(dāng)能量**原子內(nèi)層電子結(jié)合能的高能X射線與原子發(fā)生碰撞時,驅(qū)逐一個內(nèi)層電子從而出現(xiàn)一個空穴,使整個原子體系處于不穩(wěn)定的狀態(tài),當(dāng)較外層的電子躍遷到空穴時,產(chǎn)生一次光電子，擊出的光子可能再次被吸收而逐出較外層的另一個次級光電子，發(fā)生俄歇效應(yīng),亦稱次級光電效應(yīng)或*效應(yīng)。所逐出的次級光電子稱為俄歇電子。當(dāng)較外層的電子躍入內(nèi)層空穴所釋放的能量不被原

• 【ROHS檢測儀】如何使用ROHS測試儀

  如何使用ROHS測試儀XRF定量分析必須注意的是：x射線熒光光譜分析值提供管制物質(zhì)以元素形式存在與否的信息。必須特別注意例如Cr以及Br，所得的結(jié)果是總Cr和總的Br，而不反映其存在的形式。因此如果存在Cr,Br的時候，六價鉻，PBB，PBDE必須使用確認測試程序進行確認。另一方面，如果沒有Cr,Br的存在，那么就不可能存在Cr(VI),PBB,PBDE。分析方法必須小心的執(zhí)行校正，考慮：光譜干擾

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  2020年7月3日，由艾邦智造主辦的《*二屆5G陶瓷介質(zhì)濾波器高峰論壇》成功舉辦。在本次高峰論壇的展臺區(qū)，江蘇天瑞儀器股份有限公司展出了5G陶瓷介質(zhì)濾波器鍍銀層厚度的檢測設(shè)備，這款X熒光鍍層測厚儀采用X射線的方法檢測，據(jù)介紹，這款X熒光鍍層測厚儀在5G濾波器鍍銀層厚度的檢測領(lǐng)域較大的優(yōu)勢有兩點：1、測試速度快，一般測試時間為10S；2、無損檢測，*損壞樣品就可以檢測出銀層厚度。X熒光鍍層測厚儀T

• 使用鍍層測厚儀的注意事項

  使用鍍層測厚儀的注意事項一、注意保持試件表面的清潔和平整專業(yè)的鍍層測厚儀是一個非常精密的儀器，如果我們要想保證我們的測量數(shù)據(jù)能夠保持精準(zhǔn)的話，就要保持試件表面的清潔，及時的處理掉試件表面的附著物如泥土、油污等，因為鍍層測厚儀對于試件的表面變化是比較敏感的所以我們一定要保持測量表面是處于一個平整的狀態(tài)。二、測量的次數(shù)與讀數(shù)要有一定的可靠性我們在進行測量時不能夠草草了事，單憑一次的測量以及單一的數(shù)據(jù)是