MW顯微鏡載物臺(tái)相關(guān)的論文

時(shí)間：2022-08-22作者：深圳維爾克斯光電有限公司瀏覽：277

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• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 波片的應(yīng)用案列和用途

  本文介紹波片的使用方法，具體包括1/2波片和1/4波片的使用方法及應(yīng)用實(shí)例。使用1/2波片可以任意改變線偏光的偏振方向，例如把垂直偏振光變成水平偏振光。1/4波片可以實(shí)現(xiàn)線偏振光和圓偏振光之間的相互轉(zhuǎn)換。巧妙利用波片還可以生成光隔離器，或者同時(shí)改變光的傳播方向和偏振方向。旋轉(zhuǎn)線偏振Rotating Linear Polarization有時(shí)需要改變光學(xué)系統(tǒng)的現(xiàn)有偏振。例如，激光通常是水平偏振的。如

• Laseroptik的特殊鍍膜工藝介紹

  特殊應(yīng)用需要特殊的鍍膜設(shè)計(jì)或技術(shù)，LASEROPTIK可以為以下應(yīng)用提供優(yōu)化的特殊鍍膜解決方案：-超低損耗激光光學(xué)器件鍍膜-航天器/航空器光學(xué)器件鍍膜-惡劣環(huán)境鍍膜-優(yōu)化平面度鍍膜-結(jié)構(gòu)化鍍膜航天器/航空器光學(xué)器件鍍膜在太空中的高真空條件下操作激光系統(tǒng)需要堅(jiān)固的鍍膜和光學(xué)器件。航天器/航空器光學(xué)器件鍍膜失敗的關(guān)鍵風(fēng)險(xiǎn)因素是激光引起的污染和鍍膜的退化。在送出飛行光學(xué)器件之前，你必須排除由于宇宙、太陽(yáng)

• 線激光元件被用于晶圓檢測(cè)

  在半導(dǎo)體行業(yè)中，極小的表面缺陷和顆粒是一個(gè)主要問(wèn)題，這會(huì)降低產(chǎn)量并耗費(fèi)生產(chǎn)的時(shí)間和成本。因此，檢測(cè)半導(dǎo)體晶圓表面的缺陷和污染至關(guān)重要，這是在半導(dǎo)體計(jì)量行業(yè)許多客戶面臨的挑戰(zhàn)。晶圓表面檢測(cè)的快速且具有成本效益的方法之一是使用激光線照明和暗場(chǎng)/明場(chǎng)顯微鏡來(lái)檢測(cè)缺陷，通常在深紫外（DUV）波長(zhǎng)下檢測(cè)100nm以下的缺陷。在這種方法中，Holoor指出當(dāng)線沿徑向掃描時(shí)，晶圓旋轉(zhuǎn)，產(chǎn)生晶圓的大面積采樣，從而

• Specim One高光譜成像平臺(tái)在2022年Automate被推出

  Specim Spectral Imaging Ltd.是全球領(lǐng)先的高光譜成像解決方案供應(yīng)商。Specim成立于1995年，擁有一支由80多名專業(yè)人士組成的國(guó)際團(tuán)隊(duì)，他們?cè)诠鈱W(xué)、電子、軟件和機(jī)器視覺方面擁有專業(yè)知識(shí)，為市場(chǎng)提供最廣泛的高光譜相機(jī)、成像光譜儀、系統(tǒng)和配件。Specim其產(chǎn)品和支持具有卓越的質(zhì)量和成本效益。從6月6日至9日，在Automate 2022上，Specim將在5249號(hào)展位