詞條
詞條說(shuō)明
作為各種元器件的載體與電路信號(hào)傳輸?shù)臉屑~,PCB已經(jīng)成為電子信息產(chǎn)品的較為重要而關(guān)鍵的部分,其質(zhì)量的好壞與可靠性水平?jīng)Q定了整機(jī)設(shè)備的質(zhì)量與可靠性。但是由于成本以及技術(shù)的原因,PCB在生產(chǎn)和應(yīng)用過(guò)程中出現(xiàn)了大量的失效問(wèn)題。 對(duì)于這種失效問(wèn)題,我們需要用到一些常用的失效分析技術(shù),來(lái)使得PCB在制造的時(shí)候質(zhì)量和可靠性水平得到一定的保證,本文總結(jié)了**失效分析技術(shù),供參考借鑒。 1.外觀檢查 外觀檢查就是
聚焦離子束顯微鏡FIB/SEM/EDX FEI Scios 2 DualBeam技術(shù)指標(biāo) 一、技術(shù)指標(biāo) 1、電子束電流范圍:1 pA - 400 nA; 2、電子束電壓:200eV-30 keV,具有減速模式 3、電子束分辨率:0.7 nm (30 keV)、1.4 nm(1 keV) 4、大束流Sidewinder離子鏡筒; 5、離子束加速電壓500V-30kV(分辨率:3.0 nm); 6、離
名稱:半導(dǎo)體技術(shù)公益課講師征集 時(shí)間:每周五下午5-7點(diǎn) 時(shí)長(zhǎng):不限 方式:直播分享 演講者可以準(zhǔn)備ppt,發(fā)來(lái)題目,框架,時(shí)長(zhǎng),個(gè)人簡(jiǎn)介,協(xié)調(diào)好時(shí)間后即可安排。 想做線上分享的,可以聊您擅長(zhǎng)的領(lǐng)域,半導(dǎo)體相關(guān)的都?xì)g迎,話題,時(shí)長(zhǎng)不限 名稱:半導(dǎo)體技術(shù)公益課講師征集 時(shí)間:每周五下午5-7點(diǎn) 時(shí)長(zhǎng):不限 方式:直播分享 演講者可以準(zhǔn)備ppt,發(fā)來(lái)題目,框架,時(shí)長(zhǎng),個(gè)人簡(jiǎn)介,協(xié)調(diào)好時(shí)間后即可安排。
微量元素含量測(cè)試方法 近年來(lái),元素含量測(cè)試儀器發(fā)展十分*,常見的測(cè)試儀器有原子反射光譜法(AES)、原子吸收光譜法(AAS)、X射線熒光光譜法(XRF)、電感耦合等離子體原子**光譜(ICP-AES)和質(zhì)譜(ICP-MS)等,由于各個(gè)儀器的技術(shù)方法存在局限性,如何對(duì)待測(cè)元素“量體裁衣”尤為重要。下面主要從元素含量測(cè)試儀器原理、適用范圍兩個(gè)方面作簡(jiǎn)要介紹。 1.原子**光譜(AES) 原子**光譜
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