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半自動(dòng)晶圓撕膜機(jī)STK-5020是減薄后適用于 8”&12”晶圓
半自動(dòng)晶圓撕膜機(jī)STK-5020是減薄后適用于 8”&12”晶圓 晶圓減薄后撕膜機(jī)STK-5020規(guī)格參數(shù): 晶圓尺寸:8”&12”晶圓; 厚度:150 ~750 微米; 晶圓種類:硅、砷化鎵;平邊或 V 型缺口晶圓; 撕膠膜種類:撕膜膠帶; 寬度:38~100 毫米; 長度:100 米; 撕膜角度:<45 度,并且在 5°~45°可調(diào)節(jié); 撕膜溫度:室溫到 100 ℃范圍可調(diào),控溫精度+/-3℃
晶圓研磨GNX200BP晶圓減薄Wafer Grinding
晶圓研磨GNX200BP晶圓減薄Wafer Grinding 晶圓研磨GNX200BP晶圓減薄/Wafer Grinding概要 GNX200BP Wafer Grinding is a fully automatic continuous downfeed grinding machine. Wafers are handled through the machine by a robot, a
SANYOSEIKO分析儀SK-5000_SMT高溫觀察設(shè)備
SANYOSEIKO分析儀SK-5000_SMT高溫觀察設(shè)備 ——溫度控制精確、可以再現(xiàn)預(yù)設(shè)的加熱曲線 SANYOSEIKO分析儀SK-5000_SMT高溫觀察設(shè)備規(guī)格: 本體部分 寬1350MM 深 650MM 高810MM 圖像處理部分 錄像方式 MPEG-2(輸入信號(hào)制式NTSC) 監(jiān)視器 17英寸 TFT面板 LCD監(jiān)視器 **級接口 暫停顯示項(xiàng)目 溫度 時(shí)間(可顯示 小時(shí)(H)、分(M)、
浸潤平衡法沾錫天平GEN 3適用國際測試標(biāo)準(zhǔn)
浸潤平衡法沾錫天平GEN 3適用**測試標(biāo)準(zhǔn) GEN 3沾錫天平/pcb可焊性測試概要 GEN 3可快速準(zhǔn)確的測試SMD零件、通孔插裝零件、基板上的SMD墊、通孔以及助焊劑料,并能測試各類焊接金屬的可焊性能。除了在裸板上給印刷電路板墊襯和給通孔鍍金外,對于表面安裝和通孔也是高精度的沾錫天平,對于焊劑和其他焊接材料的實(shí)驗(yàn)室測試也是**的**。 pcb可焊性測試/沾錫天平GEN 3特點(diǎn) ·浸潤平衡法/
公司名: 上海衡鵬實(shí)業(yè)有限公司
聯(lián)系人: 陳靜靜
電 話: 021-52231552
手 機(jī): 18221665509
微 信: 18221665509
地 址: 上海徐匯上海市徐匯區(qū)田州路159號(hào)蓮花大廈3樓B座
郵 編:
網(wǎng) 址: hengpeng2014.cn.b2b168.com
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