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臺(tái)式X熒光光譜儀測試時(shí)粉末樣品誤差的幾個(gè)來源分析
臺(tái)式X熒光光譜儀分析法之一的粉末樣品不存在固體樣品的主要缺點(diǎn)(不能用添加劑)。在各種應(yīng)用中,粉末方法通常既方便又迅速。接下來我們了解下幾個(gè)臺(tái)式X熒光光譜儀測試時(shí)粉末樣品誤差來源。粉末樣品誤差主要來源:(1) 粒度效應(yīng) 粉末樣品粒度效應(yīng)是指被測量樣品中的分析元素的熒光強(qiáng)度變化和樣品的粒度變化有關(guān)。一般來說,被分析樣品的粒度越小,熒光強(qiáng)度越高,輕元素尤甚。原子序數(shù)越小,對(duì)粒度越敏感;同一元素粒度越小,
在眾多的工業(yè)生產(chǎn)中,壓力容器是重要設(shè)備之一,它廣泛應(yīng)用于化工、石油、制藥等領(lǐng)域。壓力容器的質(zhì)量和安全性對(duì)于工業(yè)生產(chǎn)具有至關(guān)重要的作用。在其生產(chǎn)過程中如果有難題,手持光譜儀可以幫你解決?。ㄒ唬毫θ萜髦圃斓碾y點(diǎn)和痛點(diǎn)由于壓力容器生產(chǎn)要求高,在制造過程中存在很多難點(diǎn)和痛點(diǎn),主要表現(xiàn)在以下幾個(gè)方面:1.材料檢測困難:壓力容器制造過程中需要對(duì)材料進(jìn)行嚴(yán)格的質(zhì)量控制,包括材料的成分、純度、力學(xué)性能等。傳統(tǒng)的
近日,創(chuàng)想小編收到來自售前的反饋說有客戶咨詢臺(tái)式x熒光光譜儀可不可以測金屬鍍層?接下來小編來回答一下這個(gè)問題。臺(tái)式X熒光光譜儀是通過激發(fā)樣品中的分子或原子,使其發(fā)生熒光**,然后檢測產(chǎn)生的熒光光譜來分析樣品的成分和結(jié)構(gòu)?,F(xiàn)如今臺(tái)式X熒光光譜儀是一種非常常用的分析儀器,很受廠家的青睞。答案是肯定的。事實(shí)上,臺(tái)式X熒光光譜儀可以用于測量各種類型的金屬鍍層,包括鍍鉻、鍍鋅、鍍鎳、鍍銅等。這是因?yàn)榻饘馘儗?/p>
手持式X熒光光譜儀是專門為野外、現(xiàn)場X熒光分析應(yīng)用開發(fā)的儀器。這種光譜儀可以應(yīng)用于各類地質(zhì)礦樣多元素檢測和分析、礦渣精煉分析及考古研究等領(lǐng)域。今天創(chuàng)想小編就來給大家介紹下伊瓦特手持式X熒光光譜儀如何操作。?一、注意事項(xiàng)1、手持式光譜儀使用X射線進(jìn)行分析,雖然對(duì)人體的危害較小,但仍需注意避免將儀器指向任何人或?qū)⑸眢w暴露在光束中,以確保安全。2、X射線管與探測器是精密元件,需避免碰撞或摔落,
公司名: 無錫創(chuàng)想分析儀器有限公司杭州分公司
聯(lián)系人: 馬建洲
電 話: 0510-83205379
手 機(jī): 18262253279
微 信: 18262253279
地 址: 江蘇無錫濱湖區(qū)富潤路8號(hào)
郵 編: 214161
網(wǎng) 址: glmy6688.b2b168.com
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