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環(huán)境試驗中凝露問題淺析 1 前言 環(huán)境試驗做為檢驗提高電子產(chǎn)品可靠性的一種常用手段,廣泛用于電子產(chǎn)品的各個研發(fā)周期。用于確 定通訊設備對環(huán)境的適應性。在環(huán)境試驗過程中根據(jù)產(chǎn)品的特性,選擇合適的試驗方法,對產(chǎn)品的機械性 能、電氣性能、物理性能、材料的抗拉強度和抗張力變化、絕緣性能等作出檢驗和評估。只有選擇正確的 試驗方法和標準的試驗條件下,才能得出正確的試驗結果。在恒定濕熱過程中,要預熱產(chǎn)品,避免大
NANO科技(北京)有限公司選用宏展高溫試驗箱、精密烘箱等環(huán)境試驗設備!
NANO科技(北京)有限公司選用宏展高溫試驗箱、精密烘箱等環(huán)境試驗設備! SiFotonics Technologies Co., Ltd. 成立于2006年底,目前投資額近5000萬美元,公司在波士頓、北京、上海分別設立了研發(fā)中心,現(xiàn)有員工約100余人。SiFotonics**技術團隊匯集了來自MIT、*大學、復旦大學的多名業(yè)界精英,投身于硅基光電產(chǎn)品*技術的開發(fā)與應用。NANO科技(北京
一、在無負載條件下開展校準:此方法的優(yōu)點是:高低溫試驗箱的整個工作區(qū)域都得到了校準、測試樣品變得較時不需要重新校準、能夠對高低溫試驗箱的適用性做出有效的評估。它的主要缺點是:不能評估測試樣品對試驗箱所造成的影響。? 二、在有負載條件下開展校準:此方法的優(yōu)點是:能夠比較準確地評估測試樣品對試驗箱性能的影響、易于得到測試樣品關鍵部件或部位的環(huán)境試驗的詳細信息。而它的主要缺點是:當更換測試樣品
半導體芯片在實際應用中常常面臨各種溫度和濕度條件,而這些條件可能對其性能、可靠性和壽命產(chǎn)生影響。因此,半導體制造企業(yè)會進行高低溫濕熱試驗,這試驗對半導體芯片至關重要。半導體芯片高低溫濕熱箱的應用在試驗過程中起到什么樣的作用?1. 可靠性評估:高低溫濕熱試驗可以模擬半導體芯片在較端環(huán)境條件下的使用情況,例如較高溫度、低溫、高濕度或濕熱環(huán)境。通過在這些條件下進行試驗,可以評估芯片在長期使用過程中的可靠
公司名: 廣東宏展科技有限公司
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網(wǎng) 址: hongzhan.cn.b2b168.com
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