激光器的基本參數(shù)和基礎(chǔ)知識(shí)

時(shí)間：2020-03-25作者：深圳維爾克斯光電有限公司瀏覽：183

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  詞條說明

• 變形鏡結(jié)合并應(yīng)用在顯微鏡

  生物研究者的工作是在校正波前像差發(fā)現(xiàn)未被發(fā)現(xiàn)的事物。我們的工作是通過用于自適應(yīng)光學(xué)顯微鏡的可變形反射鏡幫助您實(shí)現(xiàn)這一目標(biāo)。這篇文章主要介紹Alpao和BMC變形反射鏡在顯微鏡當(dāng)中的應(yīng)用和改善后的圖像。ALPAO變形鏡在顯微鏡的應(yīng)用自適應(yīng)光學(xué)系統(tǒng)可以糾正樣品的像差，但也可以糾正由指數(shù)不匹配引入的顯微鏡和球面像差。如果不進(jìn)行校正，這些像差會(huì)降低顯微鏡的分辨率。ALPAODM和系統(tǒng)在多光子顯微鏡、共聚焦

• 中紅外反射特征結(jié)合量子級(jí)聯(lián)激光器QCL用于檢測表面微量化學(xué)物質(zhì)

  中紅外光譜學(xué)是一個(gè)有前景的方法用于非接觸式的檢測，Blockeng利用量子級(jí)聯(lián)激光器檢測表面微量化學(xué)的一種方式。因?yàn)榇蠖鄶?shù)物質(zhì)在光譜的中紅外部分具有強(qiáng)而獨(dú)特的吸收特征，我們的探測方法，主動(dòng)式中紅外高光譜成像（HSI），包括在與高速相機(jī)相結(jié)合，捕捉目標(biāo)表面的高光譜圖像（即超立方體反射光譜。對(duì)這些超立方體進(jìn)行了光譜特征分析，展示出了用于化學(xué)檢測的優(yōu)點(diǎn)。這項(xiàng)技術(shù)的一個(gè)非常重要的應(yīng)用是探測微量爆炸物。文章

• 四波橫向剪切干涉技術(shù)是波前分析儀的核心

  這篇文章主要介紹了的PHASICS公司的核心技術(shù)——波前測量。PHASICS提供所有級(jí)別的集成，從單一的波前傳感器到模塊，再到完整的系統(tǒng)，無論是干涉儀還是完整的MTF站。在PHASICS所有的產(chǎn)品中都使用了一種技術(shù)，這就是所謂的四波橫向剪切干涉儀。它是一種衍射光柵和傳感器技術(shù)的結(jié)合。我們使用各種傳感器技術(shù)來覆蓋從紫外線到遠(yuǎn)紅外線。四波橫向剪切干涉儀?(QWLSI)的原理當(dāng)待測波前經(jīng)過波前

• 用于DLIP系統(tǒng)的衍射光學(xué)元件

  近幾年，利用高功率短脈沖準(zhǔn)直激光干涉圖像系統(tǒng)(DLIP)來重塑表面的結(jié)構(gòu)，這一方面越來越受到人們的關(guān)注。由于使用Holoor的高功率衍射光學(xué)元件（DOE）應(yīng)用在DLIP系統(tǒng)中的客戶比較多，我們覺得非常有必要為該領(lǐng)域的客戶提供系統(tǒng)的技術(shù)支持，并推出了DLIP光學(xué)系統(tǒng)的Zemax OpticStudio設(shè)計(jì)文件，并共享給有需要的客戶。在Zemax軟件中，能夠模擬光束的基本性能和公差，還可以自定義的輸入