詞條
詞條說明
表面形貌評定的**在于對特征信號無失真的提取和對使用性能的量化評定,國內(nèi)外學(xué)者在這一方面做了?大量工作,提出了許多分離與重構(gòu)方法。隨著當今微機處理技術(shù)、集成電路技術(shù)、機電一體化技術(shù)等的發(fā)展。出現(xiàn)了用分形法、Motif法、功能參數(shù)集法、時間序列技術(shù)分析法、小二乘多項式擬合法、濾波法等各種評定理論與方法,**了顯著進展。表面是由粗糙度,波紋度和表面形狀誤差3個部分構(gòu)成的。隨著現(xiàn)代測量精度的不
表面成分分析工具化學(xué)抽提法微譜技術(shù)實拍--氣相色譜儀微譜技術(shù)實拍--氣相色譜儀XRF法GC-MSLC-MSICP-MS核磁ICGPCXRD等金屬材料測試常用方法濕法分析直讀光譜(OES)電感耦合等離子體放射光譜(ICP-AES)電感耦合等離子體質(zhì)譜儀(ICP-MS)原子吸收光譜(AAS)手持式XRF
表面分析檢測項目:?材料表面(薄膜)基本力學(xué)性能(納米壓痕儀)?材料的硬度(顯微硬度計)?薄膜與基體的結(jié)合力(大載荷劃痕儀,納米劃痕儀)?抗摩擦磨損能力(摩擦磨損試驗機,劃痕儀)?表面應(yīng)力分析(X 射線衍射儀,納米壓痕 model 軟件)?材料物理化學(xué)性能:?耐腐蝕性能(鹽霧試驗機)?電化學(xué)性能(電化學(xué)工作站)&nbs
焦離子束工作原理:? 聚焦離子束顯微鏡(FIB)的利用鎵(Ga)金屬作為離子源,再加上負電場?(Extractor)?牽引**細小的鎵原子,而導(dǎo)出鎵離子束再以電透鏡聚焦,經(jīng)過一連串可變孔徑光闌,決定離子束的大小,再經(jīng)過二次聚焦以很小的束斑轟擊樣品表面,利用物理碰撞來進行特定圖案的加工,一般單粒子束的FIB(Single Beam FIB),可以提供材料切割、沉積金屬、
公司名: 深圳市啟威測標準技術(shù)服務(wù)有限公司
聯(lián)系人: 尹小姐
電 話: 0755-27403650
手 機: 15291103602
微 信: 15291103602
地 址: 廣東深圳光明區(qū)麗霖工業(yè)區(qū)3棟1樓
郵 編:
網(wǎng) 址: ssgb1809.b2b168.com
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