詞條
詞條說(shuō)明
物理原理出發(fā),為什么芯片等半導(dǎo)體等電子元件不能忍受高溫(100℃左右)?溫度會(huì)影響很多很多參數(shù),它們會(huì)對(duì)電路的各個(gè)方面產(chǎn)生影響。zui大的問(wèn)題就是電路延遲。溫度會(huì)影響半導(dǎo)體器件的遷移率和閾值電壓,但是這兩者和溫度的關(guān)系很復(fù)雜,而且不同材料的不同摻雜也會(huì)影響溫度效應(yīng)。通常情況下,在接近室溫的情況下,遷移率和閾值都會(huì)隨著溫度的上升而降低,總體上來(lái)說(shuō),溫度的上升會(huì)造成電路延時(shí)的增加。一旦延時(shí)過(guò)高,部分電
電子元器件主要有三類檢測(cè)項(xiàng)目:1.常規(guī)測(cè)試主要測(cè)試電子元器件的外觀、尺寸、電性能、安全性能等;根據(jù)元器件的規(guī)格書測(cè)試基本參數(shù),如三極管,要測(cè)試外觀、尺寸、ICBO、VCEO、VCES、HFE、引腳拉力、引腳彎曲、可焊性、耐焊接熱等項(xiàng)目,部分出口產(chǎn)品還要測(cè)試RoHS。2.可靠性測(cè)試主要測(cè)試電子元器件的壽命和環(huán)境試驗(yàn);根據(jù)使用方的要求和規(guī)格書的要求測(cè)試器件的壽命及各種環(huán)境試驗(yàn),如三極管,要進(jìn)行高溫試驗(yàn)
冷熱沖擊試驗(yàn)箱是汽車、電子、科研等領(lǐng)域需要的可靠性試驗(yàn)設(shè)備,常用于測(cè)試電工、電子及其他領(lǐng)域產(chǎn)品或材料從而得出實(shí)驗(yàn)是否符合標(biāo)準(zhǔn),其工作原理是通過(guò)高溫、低溫、溫度沖擊循環(huán)的溫度環(huán)境變化后得出相關(guān)參數(shù)及性能。由于冷熱沖擊試驗(yàn)箱是在試驗(yàn)中使用的,所以我們得先了解試驗(yàn)箱的使用方法。冷熱沖擊試驗(yàn)箱的日常使用:1、沖擊箱使用過(guò)程中,非必要,切勿打開(kāi)箱門,否則可能會(huì)導(dǎo)致以下后果。①若高溫測(cè)試時(shí),高溫?zé)釟鉀_出箱外,
高低溫試驗(yàn)箱的試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)
高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱屬氣候模擬箱,適用于檢測(cè)各種產(chǎn)品、各種材料或電器、儀器、儀表、電子元器件的在高溫、低溫或濕熱環(huán)境下的可靠性、適應(yīng)性指標(biāo)的設(shè)備。高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱屬氣候模擬箱,適用于檢測(cè)各種產(chǎn)品、各種材料或電器、儀器、儀表、電子元器件的在高溫、低溫或濕熱環(huán)境下的可靠性、適應(yīng)性指標(biāo)的設(shè)備。標(biāo)準(zhǔn):GB/T2424.1-2015環(huán)境試驗(yàn)?GB/T2424.2-2015電工電子環(huán)境試驗(yàn)箱:濕
公司名: 廣東宏展科技有限公司
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